敏捷製造的觀念廣泛的運用在生產製程中，雙次抽樣平均數管制圖（D-S 管制圖）具有快速偵測製程平均偏移的能力，相當應用到敏捷製造中。然而，D-S 管制圖假設製程標準差不變，所以監控製程變異的管制圖，雙次抽樣標準差管制圖（D-S S管制圖）被發展出來。D-S S管制圖一樣具有快速偵測製程標準差偏移的能力，且在小偏移的偵測能力比傳統的標準差管制圖來的好。在He &Grigoryan（H&G）所建構的單一目標數學規劃模式中，只考慮到監控能力和製程穩定的抽樣數兩者平衡，而忽略了製程偏移後的抽樣數。本研究利用多目標規劃方法（MO），同時考慮製程穩定和製程偏移的最小抽樣數，比較H&G模式與MO數學模式的求解結果和製程的監控能力。經由規劃求解出的結果，本研究所提出的MO數學模式不管在小抽樣數或大抽樣數下，監控能力相差不大的情況下，所計算出的期望抽樣數都比傳統標準差管制圖經濟。MO數學模式大部分的求解結果也都比H&G模式具有經濟優勢。