在可靠度試驗中，為提升電子產品的可靠度，通常會利用預燒(Burn-in)來剔除早期失效的產品，經預燒過程後，存活產品之平均殘餘壽命(Mean Residual Life; MRL)將提高。然而，適合的預燒時間有助於提升產品殘餘壽命，但預燒時間太短，會導致出廠產品失效率過高，對企業與產品的信譽上，造成莫大損失，難以彌補。若預燒時間過長卻會導致成本過高，反而形成企業的一項負擔，因此，預燒時間的決策一直以來都是企業所重視的議題。由於現今許多產品是由多個元件所組成，其串聯(Series)與並聯(Parallel)為最常見的組成結構關係，因此，本研究提出一最佳預燒模式，係考慮在串聯及並聯兩種結構關係下，建立平均殘餘壽命最大與預燒總平均成本最小之雙目標決策模式，並運用渴望函數(Desirability Function)求解最佳預燒時間。以兩假設案例說明模式的使用與求解，再進行敏感度分析，以瞭解模式中參數對於求解結果之影響，結果發現，模式中尺度參數愈大，平均殘餘壽命提高且預燒總平均成本降低。