在現今製造業中，管制圖已普遍應用在監控產品的品質特性。尤其傳統修華特管制圖廣泛被用來監控製程平均數，但修華特管制圖只對於製程平均數產生大幅度的變動較為靈敏，反而在小偏幅的變動上較為不靈敏。於是便被提出且可改善修華特管制圖在小偏移量不敏感的缺點，能夠迅速地找出製程的異常原因並探討、改善它。此外，在製造產品的同時，對於成本的考量亦是非常重要，但也有學者認為一味地追求低成本易造成過高的錯誤警報機率，因此在成本與統計績效上取得平衡為本研究最主要之目的。在本文中，將Duncan經濟性設計導入DSVSI管制圖中，再加入統計限制的條件使之成為經濟統計設計模式，並帶入例子說明經濟統計性模式的應用，利用基因演算法找出參數之最佳組合。後續再以敏感度分析探討成本參數的變動對成本與製程監控能力成效指標之影響。研究結果發現針對小偏移製程，採取經濟統計性設計可兼顧成本與統計績效；針對中大偏移量，僅需採取經濟性設計即可在成本與統計績效上達到良好的效果。