預燒試驗已經廣泛的運用在剔除初期失效率高的電子產品，以避免瑕疵品落入顧客手中，並且會使用增加預燒的環境應力像是提高溫度來縮短預燒的時間，通常此方法稱之為加速預燒試驗。因為當預燒的應力水準不同時，預燒的時間也會隨之改變。
Arrhenius模式能用來表示在加速水準之下其電子產品壽命，所以本研究使用Arrhenius模式及殘餘壽命來建構加速預燒的成本模式，並運用基因演算法求解最佳加速預燒時間和溫度水準。接著選用一個TFT-LCD模組作為求解的案例說明，最後再以敏感度分析說明本研究的模式參數設定對於求解最佳的預燒條件的影響，求解後所得到的結果較為準確，對於管理上的決策有很大的幫助。